Пределы обнаружения приборов
Пределы обнаружения (3-сигма критерий) для элементов, достигаемые на приборах фирмы PerkinElmer, мкг/л (ppb) |
|||||||||||||
|
Flame |
GF |
ICP-OES |
|
DRC |
|
Flame |
GF |
ICP-OES |
|
|
DRC |
|
|
АА |
AA |
RL |
XL |
ICP-MS |
ICP-MS |
|
АА |
AA |
RL |
XL |
ICP-MS |
ICP-MS |
Элемент |
|
|
|
|
|
Элемент |
|
|
|
|
|
|
|
Ag |
1,5 |
0,005 |
0,8 |
0,6 |
0,0005 |
0,00005 |
Na |
0,3 |
0,005(d) |
2 |
0,5 |
0,003(a,d) |
0,0003(d) |
Al |
45 |
0,1 |
2 |
0,9 |
0,006(d) |
0,0007(d) |
Nb |
1500 |
|
3 |
1 |
0,0009 |
0,00006 |
As |
150(с) |
0,05 |
10(b) |
2(b) |
0,006(b) |
0,0006 |
Nd |
1500 |
|
2 |
2 |
0,002 |
0,0001 |
Au |
9 |
0,15 |
5 |
<1 |
0,001 |
0,0002 |
Ni |
6 |
0,07 |
1 |
0,4 |
0,005 |
0,0001 |
B |
1000 |
20 |
3 |
1 |
0,08 |
0,003(d) |
Os |
120 |
|
6 |
<6 |
0,0005 |
0,0005 |
Ba |
15 |
0,35 |
0,05 |
0,03 |
0,0005 |
0,00002(d) |
P |
75000 |
130 |
10 |
4 |
0,3 |
0,1(d) |
Be |
1,5 |
0,008 |
0,03 |
0,03 |
0,003 |
0,0004 |
Pb |
15 |
0,05 |
6 |
1,4 |
0,001 |
0,00004 |
Bi |
30(c) |
0,05 |
8(b) |
2(b) |
0,0005(b) |
0,00003 |
Pd |
30 |
0,09 |
3 |
2 |
0,003 |
0,0002 |
Br |
|
250 |
30 |
0,2 |
<0,2 |
Pr |
7500 |
|
2 |
2 |
0,0004 |
0,00003 |
|
C |
|
|
75 |
<75 |
150 |
0,8 |
Pt |
60 |
2 |
7 |
2 |
0,002 |
0,00015 |
Сa |
1,5 |
0,01(a,d) |
0,05(a,d) |
0,05(a,d) |
0,05(a,d) |
0,0002(d) |
Rb |
3 |
0,03 |
50 |
5 |
0,003 |
0,00005 |
Cd |
0,8 |
0,002 |
0,7 |
0,08 |
0,003 |
0,00009 |
Re |
750 |
|
2 |
0,4 |
0,0006 |
0,00007 |
Ce |
|
5 |
<4 |
0,0004 |
0,00005 |
Rh |
6 |
|
5 |
5 |
0,0005 |
0,00003 |
|
Cl |
|
|
1100 |
100 |
10 |
<10 |
Ru |
100 |
1 |
5 |
2 |
0,002 |
0,0002 |
Co |
9 |
0,15 |
1 |
0,25 |
0,0002 |
0,00009 |
S |
|
25 |
4 |
70 |
30 |
|
Cr |
3 |
0,004 |
1 |
0,2 |
0,02 |
0,0002 |
Sb |
45(c) |
0,05 |
8(b) |
2(b) |
0,001(b) |
0,0003 |
Cs |
15 |
|
2500 |
1500 |
0,0005 |
0,00005 |
Sc |
30 |
|
0,06 |
0,06 |
0,03 |
0,003 |
Cu |
1,5 |
0,014 |
0,5 |
0,4 |
0,003 |
0,0002 |
Se |
100(c) |
0,05 |
30(b) |
3(b) |
0,06(b) |
0,0007 |
Dy |
50 |
|
1 |
0,5 |
0,001 |
0,0001 |
Si |
90 |
1(d) |
20 |
5(d) |
0,7(d) |
0,03(d) |
Er |
60 |
|
1 |
0,5 |
0,0008 |
0,0001 |
Sm |
3000 |
|
1 |
2 |
0,001 |
0,0001 |
Eu |
30 |
|
0,2 |
<0,2 |
0,0007 |
0,0001 |
Sn |
150(c) |
0,1 |
20(b) |
4(b) |
0,002(b) |
0,0004 |
F |
|
|
|
|
10000 |
380 |
Sr |
3 |
0,02 |
0,02 |
0,03 |
0,0008 |
0,00002 |
Fe |
5 |
0,06 |
1 |
0,1 |
0,005a |
0,00015(d) |
Ta |
1500 |
|
3 |
1 |
0,0006 |
0,00014 |
Ga |
75 |
|
4 |
1,5 |
0,001 |
0,0002 |
Tb |
900 |
|
2 |
2 |
0,0005 |
0,00001 |
Gd |
1800 |
|
0,9 |
0,9 |
0,002 |
0,0002 |
Te |
30(c) |
0,1 |
10(b) |
2(b) |
0,01(b) |
0,0008 |
Ge |
300(c) |
10 |
10(b) |
1(b) |
0,003(b) |
0,0007 |
Th |
|
|
8 |
3 |
0,0003 |
0,00001 |
Hf |
300 |
|
2 |
0,5 |
0,0006 |
0,0001 |
Ti |
75 |
0,35 |
0,4 |
0,2 |
0,005 |
0,0005 |
Hg |
300(c) |
0,6 |
2(b) |
0,6(b) |
0,004(b) |
0,0004 |
Tl |
15 |
0,1 |
10 |
2 |
0,0003 |
0,00004 |
Ho |
60 |
|
0,5 |
0,4 |
0,0005 |
0,00003 |
Tm |
15 |
|
0,6 |
0,6 |
0,0003 |
0,00001 |
I |
|
|
240 |
45 |
0,008 |
0,001 |
U |
15000 |
|
15 |
5 |
0,0001 |
0,00001 |
In |
30 |
|
6 |
1 |
0,0003 |
0,00001 |
V |
60 |
0,1 |
0,5 |
<1 |
0,002 |
0,0005 |
Ir |
900 |
3 |
5 |
1,5 |
0,0006 |
0,00006 |
W |
1500 |
|
5 |
1 |
0,003 |
0,0004 |
K |
3 |
0,005(d) |
10 |
1 |
0,010(a,d) |
0,0002(d) |
Y |
75 |
|
0,3 |
0,2 |
0,0009 |
0,0001 |
La |
3000 |
|
0,6 |
0,4 |
0,0005 |
0,00001 |
Yb |
8 |
|
0,1 |
<0,1 |
0,001 |
0,0001 |
Li |
0,8 |
0,06 |
0,1 |
0,06 |
0,0004a |
0,0001 |
Zn |
1,5 |
0,02 |
0,5 |
0,2 |
0,003 |
0,0003 |
Lu |
1000 |
|
0,1 |
<0,1 |
0,0005 |
0,00001 |
Zr |
450 |
|
0,5 |
0,3 |
0,004 |
0,0003 |
Mg |
0,15 |
0,004(d) |
0,06(d) |
0,03(d) |
0,007(d) |
0,0001(d) |
Tc |
|
0,0003 |
0,00005 |
|||
Mn |
1,5 |
0,005 |
0,1 |
0,1 |
0,002 |
0,00007 |
Np |
Ra |
Pa |
Am |
|
0,0001 |
0,00001 |
Mo |
45 |
0,03 |
2 |
0,5 |
0,003 |
0,0003 |
Pu |
|
<30 |
<30 |
0,0001 |
0,00001 |
Все пределы обнаружения определены с использованием разбавленных одноэлементных стандартных растворов.
Все пределы обнаружения определялись по 3-сигма критерию.
Все атомно-абсорбционные (пламя) пределы обнаружения определены на AAnalyst 800 и 700 с оптимизацией параметров для каждого элемента.
С графитовой печью использовались приборы AAnalyst 600 и 800 и объем образца 50 мкл.
ICP-эмиссионные пределы обнаружения даны для приборов OPTIMA DVсерий 7000 и 7X00 для радиального и продольного наблюдения плазмы. Обычно, пределы обнаружения с продольным (аксиальным, XL) наблюдением лучше в 2-10 раз. Приборы двойного обзора плазмы OPTIMA 7000 DV и 7X00 DV сочетают преимущества радиального и продольного наблюдения.
ИСП масс-спектрометрические пределы обнаружения для приборов ELAN 9000 и ELAN DRC II. Выполняется и изотопный анализ.
С приведными в таблице пределами обнаружения динамический диапазон определяемых концентраций методами ААS - 2-3 десятичных порядка, методом ICP-OES - 5-7 порядков и методом ICP-MS - 8-9 десятичных порядков.
(a) Обозначает, что пределы обнаружения определялись при условиях "холодной"плазмы.
(b) Обозначает, что пределы обнаружения могут быть улучшены в 20-200 раз с использованием генерации гидридов FIAS-400.
(c) С применением ртуть-гидридной системы MHS-15 пределы могут быть: As, Se - 0.02; Bi,Sb,Sn,Ge - 0.1; Te - 0.05; Hg - 0.02 ppb
(d) Для достижения таких пределов по этим элементам требуются специальные чистые условия в лаборатории.
Распространеные элементы для пределов лучше 0.001ppb (а некоторые и для 1-0.1 ppb) требуют особочистыхреактивов.
Скачать в формате PDF