Пределы обнаружения приборов

Пределы обнаружения (3-сигма критерий) для элементов, достигаемые на приборах фирмы PerkinElmer, мкг/л (ppb)

 

Flame

GF

ICP-OES

 

DRC

 

Flame

GF

ICP-OES

 

 

DRC

 

АА

AA

RL

XL

ICP-MS

ICP-MS

 

АА

AA

RL

XL

ICP-MS

ICP-MS

Элемент

 

 

 

 

 

 

Элемент

 

 

 

 

 

 

Ag

1,5

0,005

0,8

0,6

0,0005

0,00005

Na

0,3

0,005(d)

2

0,5

0,003(a,d)

0,0003(d)

Al

45

0,1

2

0,9

0,006(d)

0,0007(d)

Nb

1500

 

3

1

0,0009

0,00006

As

150(с)

0,05

10(b)

2(b)

0,006(b)

0,0006

Nd

1500

 

2

2

0,002

0,0001

Au

9

0,15

5

<1

0,001

0,0002

Ni

6

0,07

1

0,4

0,005

0,0001

B

1000

20

3

1

0,08

0,003(d)

Os

120

 

6

<6

0,0005

0,0005

Ba

15

0,35

0,05

0,03

0,0005

0,00002(d)

P

75000

130

10

4

0,3

0,1(d)

Be

1,5

0,008

0,03

0,03

0,003

0,0004

Pb

15

0,05

6

1,4

0,001

0,00004

Bi

30(c)

0,05

8(b)

2(b)

0,0005(b)

0,00003

Pd

30

0,09

3

2

0,003

0,0002

Br

 

250

30

0,2

<0,2

Pr

7500

 

2

2

0,0004

0,00003

C

 

 

75

<75

150

0,8

Pt

60

2

7

2

0,002

0,00015

Сa

1,5

0,01(a,d)

0,05(a,d)

0,05(a,d)

0,05(a,d)

0,0002(d)

Rb

3

0,03

50

5

0,003

0,00005

Cd

0,8

0,002

0,7

0,08

0,003

0,00009

Re

750

 

2

0,4

0,0006

0,00007

Ce

 

5

<4

0,0004

0,00005

Rh

6

 

5

5

0,0005

0,00003

Cl

 

 

1100

100

10

<10

Ru

100

1

5

2

0,002

0,0002

Co

9

0,15

1

0,25

0,0002

0,00009

S

 

25

4

70

30

Cr

3

0,004

1

0,2

0,02

0,0002

Sb

45(c)

0,05

8(b)

2(b)

0,001(b)

0,0003

Cs

15

 

2500

1500

0,0005

0,00005

Sc

30

 

0,06

0,06

0,03

0,003

Cu

1,5

0,014

0,5

0,4

0,003

0,0002

Se

100(c)

0,05

30(b)

3(b)

0,06(b)

0,0007

Dy

50

 

1

0,5

0,001

0,0001

Si

90

1(d)

20

5(d)

0,7(d)

0,03(d)

Er

60

 

1

0,5

0,0008

0,0001

Sm

3000

 

1

2

0,001

0,0001

Eu

30

 

0,2

<0,2

0,0007

0,0001

Sn

150(c)

0,1

20(b)

4(b)

0,002(b)

0,0004

F

 

 

 

 

10000

380

Sr

3

0,02

0,02

0,03

0,0008

0,00002

Fe

5

0,06

1

0,1

0,005a

0,00015(d)

Ta

1500

 

3

1

0,0006

0,00014

Ga

75

 

4

1,5

0,001

0,0002

Tb

900

 

2

2

0,0005

0,00001

Gd

1800

 

0,9

0,9

0,002

0,0002

Te

30(c)

0,1

10(b)

2(b)

0,01(b)

0,0008

Ge

300(c)

10

10(b)

1(b)

0,003(b)

0,0007

Th

 

 

8

3

0,0003

0,00001

Hf

300

 

2

0,5

0,0006

0,0001

Ti

75

0,35

0,4

0,2

0,005

0,0005

Hg

300(c)

0,6

2(b)

0,6(b)

0,004(b)

0,0004

Tl

15

0,1

10

2

0,0003

0,00004

Ho

60

 

0,5

0,4

0,0005

0,00003

Tm

15

 

0,6

0,6

0,0003

0,00001

I

 

 

240

45

0,008

0,001

U

15000

 

15

5

0,0001

0,00001

In

30

 

6

1

0,0003

0,00001

V

60

0,1

0,5

<1

0,002

0,0005

Ir

900

3

5

1,5

0,0006

0,00006

W

1500

 

5

1

0,003

0,0004

K

3

0,005(d)

10

1

0,010(a,d)

0,0002(d)

Y

75

 

0,3

0,2

0,0009

0,0001

La

3000

 

0,6

0,4

0,0005

0,00001

Yb

8

 

0,1

<0,1

0,001

0,0001

Li

0,8

0,06

0,1

0,06

0,0004a

0,0001

Zn

1,5

0,02

0,5

0,2

0,003

0,0003

Lu

1000

 

0,1

<0,1

0,0005

0,00001

Zr

450

 

0,5

0,3

0,004

0,0003

Mg

0,15

0,004(d)

0,06(d)

0,03(d)

0,007(d)

0,0001(d)

Tc

 

0,0003

0,00005

Mn

1,5

0,005

0,1

0,1

0,002

0,00007

Np

Ra

Pa

Am

 

0,0001

0,00001

Mo

45

0,03

2

0,5

0,003

0,0003

Pu

 

<30

<30

0,0001

0,00001

Все пределы обнаружения определены с использованием разбавленных одноэлементных стандартных растворов.

Все пределы обнаружения определялись по 3-сигма критерию.

Все атомно-абсорбционные (пламя) пределы обнаружения определены на AAnalyst 800 и 700 с оптимизацией параметров для каждого элемента.

С графитовой печью использовались приборы AAnalyst 600 и 800 и объем образца 50 мкл.

ICP-эмиссионные пределы обнаружения даны для приборов OPTIMA DVсерий 7000 и 7X00 для радиального и продольного наблюдения плазмы. Обычно, пре­делы обнаружения с продольным (аксиальным, XL) наблюдением лучше в 2-10 раз. Приборы двойного обзора плазмы OPTIMA 7000 DV и 7X00 DV сочетают преимущества радиального и продольного наблюдения.

ИСП масс-спектрометрические пределы обнаружения для приборов ELAN 9000 и ELAN DRC II. Выполняется и изотопный анализ.

С приведными в таблице пределами обнаружения динамический диапазон определяемых концентраций методами ААS - 2-3 десятичных порядка, методом ICP-OES - 5-7 порядков и методом ICP-MS - 8-9 десятичных порядков.

(a) Обозначает, что пределы обнаружения определялись при условиях "холодной"плазмы.

(b) Обозначает, что пределы обнаружения могут быть улучшены в 20-200 раз с использованием генерации гидридов FIAS-400.

(c) С применением ртуть-гидридной системы MHS-15 пределы могут быть: As, Se - 0.02; Bi,Sb,Sn,Ge - 0.1; Te - 0.05; Hg - 0.02 ppb

(d) Для достижения таких пределов по этим элементам требуются специальные чистые условия в лаборатории.

Распространеные элементы для пределов лучше 0.001ppb (а некоторые и для 1-0.1 ppb) требуют особочистыхреактивов.

Скачать в формате PDF